一般在實(shí)驗(yàn)室測試端子質(zhì)量的方法有兩種:電壓降試驗(yàn)和溫升試驗(yàn)。
電壓降試驗(yàn)可用于確定連接點(diǎn)的電阻。當(dāng)導(dǎo)線首次接好時(shí),并用當(dāng)在振動(dòng),溫度循環(huán)和腐蝕的條件下,它反映較初的夾緊點(diǎn)的質(zhì)量。溫升試驗(yàn)也是連接電阻的和種反應(yīng)。它允許整套的接線端子在標(biāo)準(zhǔn)電流、大電流和短路的條件下被檢查。
在長時(shí)間工作時(shí),尤其在溫度變化時(shí)接點(diǎn)的壓降會(huì)大大地改變。加熱和冷卻使各接觸件膨脹和收縮,從而改變接觸壓力和使導(dǎo)線變形。如果這點(diǎn)沒有給予補(bǔ)償(即擰緊螺釘),則接觸處將產(chǎn)生升高的壓降,該壓降較終會(huì)阻礙信號(hào)或引起電弧。而籠式彈簧夾持可以自動(dòng)地根據(jù)導(dǎo)線的種類和粗細(xì)進(jìn)行調(diào)節(jié)。壓降幾乎保持不變一保證長期的可靠性。
為避免這些環(huán)境中接線端子會(huì)因此受到變形等問題,接線端子和接插件中的接觸材料必須具有內(nèi)在的防腐蝕性能。